掃描電鏡對于樣品尺寸與形狀的要求如下：

一、樣品尺寸要求

一般要求：

樣品的高度通常應小于一定數值，如15mm或20mm，具體取決于SEM掃描電鏡儀器的型號和規格。

樣品的直徑也需控制在一定范圍內，如小于30mm或50mm，但一般不超過儀器的樣品室直徑。

特殊形狀樣品要求：

對于塊狀樣品，其尺寸通常不應超過10cm×10cm×5cm（長寬≤1cm，厚度≤1cm，質量不超過200g是更常見的限制），以便能夠放入樣品臺并進行有效的觀察和分析。

對于薄膜或片狀樣品，需特別注明測試面和測試位置，并確保其尺寸適合掃描電鏡的觀測需求。

粉末或顆粒樣品：

粉末樣品通常需要提供約10mg的樣品量。

顆粒樣品應確保單個顆粒的尺寸適中，以便在SEM掃描電鏡下清晰成像。

二、樣品形狀要求

規則形狀：

規則形狀的樣品（如立方體、圓柱體等）更容易在掃描電鏡下進行定位和觀測。

不規則形狀：

不規則形狀的樣品在觀測前可能需要進行適當的處理，如切割、研磨或拋光，以確保其表面平整并適合SEM掃描電鏡觀測。

特殊要求：

對于某些特殊樣品（如脆性樣品），可能需要采用特殊的制備方法（如脆斷）來確保其形狀適合掃描電鏡觀測。

三、其他注意事項

樣品穩定性：

樣品在SEM掃描電鏡觀測過程中應保持穩定，不發生形變或分解。因此，在制備樣品時需要考慮其化學和物理穩定性。

樣品導電性：

樣品應具有良好的導電性，以防止在電子束轟擊下產生荷電現象，影響圖像質量。若樣品不導電，需要進行噴金、噴碳等導電膜的處理。

樣品清潔度：

樣品表面應清潔無雜質，以免影響掃描電鏡的觀測結果。在制備樣品時需要進行適當的清洗和干燥處理。

綜上所述，SEM掃描電鏡對于樣品尺寸與形狀的要求較為嚴格，需要確保樣品尺寸適中、形狀規則且穩定、導電性好以及清潔度高。這些要求有助于確保掃描電鏡觀測結果的準確性和可靠性。