1、掃描電鏡（SEM）是一種常用的表面形貌和結構分析工具，對于樣品的形態、表面粗糙度、成分等方面都有較高的要求。以下是掃描電鏡對樣品的一些基本要求：

2、樣品應該是干燥的，因為水分的存在會在電子束的轟擊下產生蒸汽，影響觀察效果。

3、樣品應該是導電的，因為非導電樣品在電子束的轟擊下會產生靜電，影響觀察效果。

4、樣品應該具有良好的熱穩定性，因為電子束的轟擊會導致樣品溫度升高，如果樣品不耐熱，可能會發生形變或分解。

5、樣品表面應該盡可能平坦，以便更好地觀察形貌和結構。

6、樣品應該無磁性，因為磁性樣品會在電子束的作用下產生磁場，影響觀察效果。

7、對于某些特殊樣品的觀察，可能需要涂覆導電層或鍍膜等處理，以提高觀察效果。

總之，掃描電鏡對樣品的要求較高，需要在實驗前對樣品進行充分的測試和評估，以確保觀察結果的準確性和可靠性。同時，在觀察過程中也需要注意控制實驗條件，如加速電壓、工作距離、掃描速度等參數，以獲得Z佳的觀察效果。